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用于动力学监控的原位纳米粒度测量技术
阅读：1403发布时间：2020-03-30
| 提 供 商： | 仪思奇（北京）科技发展有限公司 | 资料大小： | 1.4MB |
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| 资料图片： | 下载次数： | 54次 | |
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浏览次数： | 1403次 |
详细介绍
本文介绍了用于原位纳米粒度分析的远程光纤探头技术VASCO KinTM。由法国技术公司（CORDOUAN Technologies）开发的VASCO KinTM是一款功能的纳米粒度分析仪，它利用的单模光纤技术将DLS测量导入到你的过程监控。创新的光纤远程探头(下文介绍其原理)使VASCO Kin能够非常简单地结合到你现有的实验装置上(如合成反应器或小角X光散射SAXS系统)，给用户提供了大的测量灵活性，以监测和改进其工艺过程的颗粒粒度随时间或反应条件的变化。
仪思奇（北京）科技发展有限公司主营产品：润湿比表面分析仪-动态图像法粒度分析仪-粒子分散稳定性分析仪
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