厚度(仅适用微型三角度光泽仪µ):

首先选择探头(Fe,NFe)。 屏幕显示校准菜单。根据选择的Fe或NFe探讨，将仪器放在金属标准板 上，按操作按钮。 

零点设置完成后，屏幕显示”AIR” (空气），将仪器移至半空，并按动 操作按钮。 校准完成后屏幕显示(OK)确认。仪器返回到校准菜单项目。 注意： 膜厚测量通常会受到金属基材的影响。因此建议可在没有涂层的金属 样品上进行零点校准后，再测量样品的涂层厚度。此时样品的基材替 代了随机附带的金属板。 

更改校准数据 :

校准标准的光泽数据在随机附带的保护罩内。在进行自动校准时，跟 据保护罩内的数据设定标准。 在有些情况下，有必要输入新的校准标准数据。例如：原配的标准板 损坏或划伤。  

为确保校准，只能使用由原厂提供的标准板 ，只能使用由原厂提供的标准板。 按照左图显示的路径到达更改校准数据菜单项。 

有三个角度单位在选择菜单中显示。按动滚轮，选择需要的角度。  

在修改前，屏幕显示警告信息。如需取消可按动操作按钮退出。 如果按下滚轮，您将进入更改校准数据程序。 

在接下来的屏幕中您可输入新的校准数据。

在您输入新的数据后，屏幕再次显示警告信息。您可再次按动操作按 钮取消输入并退出。 如果您确认屏幕显示的刚输入的新数据，请按下滚轮。

当更改完所有的数据后，请对仪器重新校准。

 状态 :

该菜单项提供您仪器校准状态的相关信息。 在该菜单项中您可检查比对仪器中存储的校准数据和保护罩内的校准 数据。同时屏幕还个别显示zui近一次自检或校准中某个角度的错误信 息。错误信息的更详细内容参见后面的错误和警告信息章节。 

您可以分别对光泽和测厚的测量数据标尺进行设置。

膜厚测量 :

膜厚探头的功能是根据电磁感应方式（Fe）或电涡流方式（NFe）。因 此测量结果在高磁场或电磁波的环境下产生偏差。 测量的膜厚受到磁性（Fe）或非磁性（NFe）金属基材厚度的影响。 测量结果还会受到诸如复合物或底材热处理的影响发生偏差。应此推荐 在没有涂层的产品上进行零点校准后再进行样品测量。 对于粗糙的表面也会影响涂层厚度的测量。为了降低随机误差，建议使 用多点测量法。 如果是在附有非磁性金属层的磁性基材（例如：镀锌铁板）上测量涂层 膜厚，请注意以下几点：

● 用于NFe设置，基材厚度至少50µm。（例如非磁性涂层）

● 用于Fe设置，非磁性涂层厚度已包含在测量结果中。