相控阵探伤仪技术优势：

1. 实时彩色成像，包括A/B/C/D和S-扫描，便于缺陷判读，不会误判或漏判缺陷；
2. 相控阵技术可以实现线性扫查、扇形扫查和动态深度聚焦，从而同时具备宽波束和多焦点的特性，因此检测速度可以更快更准；
3. 相控阵具有更高的检测灵活性，可以实现其它常规检测技术所不能实现的功能，如对复杂工件检测；
4. 容易检测各种走向、不同位置的缺陷，缺陷检出率高，检测范围广，定量、定位精度高；
5. 扫查装置简单，便于操作和维护；使用更便捷，对人体无伤害，对环境无污染；
6. 检测结果受人为因素影响小，数据便于储存、管理和调用，以及连接电脑打印查看。也可以直接连接鼠标在仪器上操作。
7. 可以节省许多成本费用，一探头和各角度楔块的多用处，可以自动生成图文缺陷报告，若有内部网路可以直接发送质检报告到数据中心查阅。

   

超声技术优于射线成像的一般优势特性：

• 高探出率（POD），特别是在探测裂纹和未熔合缺陷时：
• 大多数研究表明，超声技术在探测平面缺陷方面往往比射线成像的效果更好。
• 定量缺陷的高度，通过工程临界评估可以降低要报废或修理的产品数量：
• 超声技术可以对缺陷的高度进行测量，从而可以通过缺陷的体积维度，了解缺陷的严重程度（而不是只了解缺陷的类型和长度）。
• 没有辐射，不会造成危险，也不需要拥有额外的许可证书或特殊的检测人员。
• 不需要隔离区域。在进行超声检测时，不会影响或中断其附近区域正在进行的其它工作。
• 不会产生任何化学品或废料，这点与基于胶片的射线成像技术正好相反。
• 对焊缝实时进行的超声分析可以立即向电焊工提供评估结果和反馈信息。
• 超声技术以电子格式提供设置报告和检测报告，而射线成像技术以胶片形式提供检测结果。

OmniScan SX相控阵探伤仪

Olympus不无自豪地为广大用户推出了研制的OmniScan SX，这是一款积累了20多年探索相控阵技术的经验，体现了OmniScan精华的探伤仪。为了更加方便地使用仪器，OmniScan SX在其8.4英寸触摸屏上使用了合理简化的新型软件界面。OmniScan SX是一款单组无模块仪器，针对检测要求较低的应用，这款仪器操作极为方便，性价比*。OmniScan SX有两种型号：SX  PA和SX UT。SX  PA是一款16:64PR相控阵单元，与仅具有UT通道的SX UT一样，也配备了一个常规UT通道，可以进行脉冲回波、一发一收或TOFD检测。与OmniScan  MX2相比，OmniScan SX重量轻33 %，体积小50 %，具有OmniScan产品的更为轻巧便携的性能。

Typical phased array probe assemblies