菲希尔FISCHERSCOPE X-RAY XDL230

一、仪器概述

FISCHERSCOPE X-RAY XDL 230 是一款应用广泛的能量色散型 X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪。该仪器具备强大功能，可用于无损测量镀层厚度、材料分析和溶液分析，还能对大规模生产的零部件及印刷线路板上的镀层进行检测。

二、性能优势

1. 稳定性佳：XDL 230 拥有良好的长期稳定性，无需频繁校准仪器，为用户节省时间与精力。

2. 测量精准：比例接收器能够实现高计数率，从而保障高精度测量，确保数据的可靠性。

3. 测量灵活：采用 FISCHER 基本参数法，无论是镀层系统，还是固体和液体样品，在没有标准片的情况下，仪器都能进行测量和分析。

三、适用场景

菲希尔X射线测厚仪XDL 230 特别适用于客户进行质量控制、进料检验和生产流程监控，其典型应用领域如下：

• 测量大规模生产的电镀部件；

• 测量超薄镀层，例如装饰铬；

• 测量电子工业或半导体工业中的功能性镀层；

• 测量印刷线路板；

• 分析电镀溶液。