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COULOSCOPE CMS STEP可以通过定位于电位-时间表中相关部分的双指针来方便地测出镀层厚度和电位差。这个图表能够外部保存或通过RS232转换到PC电脑中。
在电镀行业中，对多层镍镀层中各自层的同时的厚度及电极电位的测定变成了一个越来越重要的需求，德国Fischer库伦测厚仪CouloScope CMS STEP正是应此而成功研制并大量应用。的多镀层组成为不含硫的半光亮镍层和含硫的光亮镍层。这两个镍层间足够的电位差导致了光亮镍层优先腐蚀于半光亮镍层。这种次序也就延迟了整个镍层的穿透速度，并且给了基材相对于单镀层更好的防腐保护。
特征：
标准：DIN EN ISO 2177 ； ASTM B504
大屏幕点阵液晶显示屏，可显示文字与图形：126 * 70 mm
可设置和储存：50个应用程式、600个数据组；3 000个数据
统计：平均值、zui大值、zui小值、标准偏差、测量次数、Cp、Cpk 和直方图
使用多层菜单和软键，使操作更方便
RS232 接口可通过电缆和传输软件将数据传到 PC
模拟输出： 0 ～ -18V
输入阻抗： ＞ 2 KΩ
工作温度： 10 ℃ ～ 40 ℃
仪器重量： 6 kg
电源： AC 220 V ，50-60 Hz；zui大功耗 ≤ 85 VA
尺寸： 350W * 140H * 200D mm
COULOSCOPECMS
COULOSCOPECMS STEP
库仑镀层厚度测试仪
分步测量： 镀层厚度和电位差
测量：
Au、Cd、Cr、Pd、Ni、Sn、Zn、Pb、Pb60Sn40、Brass 等金属
基材可为 Cu and Cu-Alloy、Al and Al-Alloy、Zn and Zn-Alloy、Ni、Fe、非金属材料等
COULOSCOPE CMS双层镍镀层库伦测厚仪基本配置：
仪器：Couloscope CMS
测量台： V24、V26、V18 等
电解液： F1 ～ F22
作为测量镀层厚度zui简单的方法之一，库仑法可以用于 各种镀层组合。 尤其对于多镀层结构， 当允许破坏性测 量时，它提供了一个比 X 射线更经济的替代方法。
很多常见的单、双镀层例如铁镀锌或者铜镀镍镀锡都可 以用 CMS2 简单快速地测量。这个方法为任何金属镀层 提供了的测量。在厚度范围 0.05 - 50 μm 内， 很多 材料不需要预设定；基材组成和几何形状对于测量都 是无关紧要的。