GALVANOTEST 2000电化学去镀测厚仪一级代理

GALVANOTEST 2000测厚仪根据DIN 50955 / ISO 2177的库仑电镀或电化学去镀技术适用于实际上所有基材上的电镀涂层的测量，即：在钢，有色金属和绝缘材料上的测量。 钢上的镍，钢上的锌，铜上的锡，铜上的银和环氧树脂上的铜。 该方法也适用于测量多层系统的各种涂层，例如钢上铜上的镍铬。

测量原理是基于法拉第定律

??与电镀方法相反，涂层从样品中电化学去除。 为此，将不锈钢测量池放置在要测量的样品上。 电池填充有根据涂层/基底组合选择的电解质溶液。 放置在电池和样品之间的橡胶垫圈限定了测量区域，例如， 4平方毫米。 测量装置电连接到电子处理单元。 当接通时，恒定电流流过电解液，以电化学方式去除电化学金属涂层。

GALVANOTEST 2000电化学去镀测厚仪一级代理

测量原理库仑去镀法
可测量涂层/基体
组合：70以上请参考电解液选择表
测量范围0.05? 75个中心
去镀速度0.3 ... 40微米/分（可调）
测量单位μm（微米）/英寸（可调）
显示读数4位数字显示浮点数
字母数字显示16位数字
显示仪器设置和操作步骤
用于监测去镀工艺的模拟仪器
数据存储zui大 2,000个读数zui多可存储10个应用程序
通过键盘操作
数据端口RS 232 CfürMiniPrint 4100，PC或其他兼容打印机
y-t写入器的模拟输出
电源可从110V / 200V±10％50 ... 60Hz / 10瓦切换
重量仪器：约 2.5公斤精密架：约 2,5公斤

笃挚仪器现货代理！涂层厚度测量仪器系列GalvanoTest 2000/3000由ElektroPhysik Dr. Steingroever GmbH＆Co. KG制造。 良好的2000和3000具有功能和实用的厚度计，其操作在库仑原理上，用于测量金属或非金属基底上的所有类型的电镀单层或多层涂层由铬，镍，黄铜，银等制成。 测量范围为0.05至75μm，测量池配有循环泵。 它具有各种类型的附件，用于在诸如线材和多层涂层的小部件上进行测量。