测厚仪Mintest 3100膜厚仪EPK代理

测厚仪Mintest 3100膜厚仪EPK代理

MiniTest1100/2100/3100/4100涂层测厚仪功能 
型号
1100
2100
3100
4100
MINITEST 存储的数据量
应用行数（根据不同探头或测试条件而记忆的校准基础数据数）
1
1
10
99
每个应用行下的组（BATCH）数（对组内数据自动统计，可设宽容度极限值）
-
1
10
99
可用各自的日期和时间标识特性的组数
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1
500
500
数据总量
1
10000
10000
10000
MINITEST统计计算功能
读数的六种统计值x,s,n,max,min,kvar
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读数的八种统计值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk
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组统计值六种x,s,n,max,min,kvar
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组统计值八种x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk
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存储显示每一个应用行下的所有组内数据
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分组打印以上显示和存储的数据和统计值
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显示并打印测量值、打印的日期和时间
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其他功能
透过涂层进行校准（CTC）
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在粗糙表面上作平均零校准
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利用计算机进行基础校准
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补偿一个常数（Offset）
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外设的读值传输存储功能
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保护并锁定校准设置
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更换电池是存储数值
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设置极限值
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公英制转换
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连续测量模式快速测量，通过模拟柱识别zui大zui小值
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连续测量模式中测量稳定后显示读数
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浮点和定点方式数据传送
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组内单值延迟显示
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连续测量模式中显示zui小值
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可选探头
所有探头都可配合任一主机使用。在选择zui适用的探头时需要考虑覆层厚度，基体材料以及基体的形状、厚度、大小、几何尺寸等因素。
F型探头：测量钢铁基体上的非磁性覆层 
N型探头：测量有色金属基体上的绝缘覆层 
FN两用探头：同时具备F型和N性探头的功能
文章链接：中国化工仪器网 https://www.chem17.com/company_news/Detail/246525.html
FN两用探头：同时具备F型和N性探头的功能