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CC-UV/VIS余弦校正器是一种用于光谱辐射取样的光学元件,用于收集180o立体角内的辐射(光线),从而消除了其它取样装置中光线收集取样几何结构中的光学接口问题。 CC-UV/VIS余弦校正器采用特氟龙(聚四氟乙烯)漫射材料,对200-1100nm波段优化。
CC-UV/VIS可以和任何SMA接头的光纤旋拧起来。当耦合在微型光纤光谱仪上时,可以用来测量UV-A和UV-B太阳辐射、环境光、灯光和其它发光光源。
CC-UV/VIS带有0.25英寸外径外壳,其表面进行了氧化平滑发黑处理。散射材料是一个安装在壳底的薄片。余弦校准器有SMA905接头可以方便的与光纤耦合。
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技术数据 漫散材料 特氟龙 (200-1100 nm), 约 1mm 厚 外壳直径 外径 0.25 英寸 取样几何结构 接收来自 180 ° 立体角的光 接头 SMA 905 工作温度 -60 ℃ 到 200℃ CC-UV/VIS 用于UV/VIS/NIR谱段的, 包括 SMA 适配器
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