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XOS 软件旨在对样品的基体效应做出准确响应。然而，和任何分析技术一样，总有一些样品对 XRF 来说具有特别的挑战性，一般 是由于材料的密度和/或元素的组成。本文件讨论了光谱干扰的一般成因，对涉及到检测和定量测量各种均匀样品基体中铅（Pb） 含量时所碰到的常见问题做出了回答。
是什么原因导致铅的测量浓度偏高和检测限（LOD）的增加？
在塑料基底中是否有内在的铅干扰因素？
在金属基底中是否有内在的铅干扰因素？
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XRF分析中铅元素的光谱干扰
阅读：1435 发布时间：2017-08-28