产品简介
详细介绍
9mmMC-2000D涂镀层测厚仪供货商专业销售MC-2000D涂层测厚仪,本公司以诚信为本,质量为先”的企业文化,为消费者提供高质量的产品1年保修,。,具体型号有:具体型号有:MC-3000/MC-3000A/MC-3000C/MC-3000D/MC-2000A/MC-2000D/MC-2000C/MC-2000A涂层测厚仪
9mmMC-2000D涂镀层测厚仪供货商磁感应测量原理
MC-2000D型涂(镀)层测厚仪采用电磁感应法测量涂(镀)层的厚度时,利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小,来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小,来表示其覆层厚度。覆层越厚,则磁阻越大,磁通越小。利用磁感应原理的测厚仪,原则上可以有导磁基体上的非导磁覆层厚度。一般要求基材导磁率在500以上。如果覆层材料也有磁性,则要求与基材的导磁率之差足够大(如钢上
镀镍)。当软芯上绕着线圈的测头放在被测样本上时,仪器自动输出测试电流或测试信号。早期的产品采用指针式表头,测量感应电动势的大小,仪器将该信号放大后来
指示覆层厚度。近年来的电路设计引入稳频、锁相、温度补偿等地新技术,利用磁阻来调制测量信号。还采用设计的集成电路,引入微机,使测量精度和重现性有了大幅度的提高(几乎达一个数量级)。现代的磁感应测厚仪,分辨率达磁感应测厚仪_电涡流测量原理_磁吸力测量原理及测厚仪_电涡流原理的测厚仪到0.1um,允许误差达1%,量程达10mm。
磁性原理测厚仪可应用来精确测量钢铁表面的油漆层,瓷、搪瓷防护层,塑料、橡胶覆层,包括镍铬在内的各种有色金属电镀层,以及化工石油待业的各种防腐涂层
MC-2000D涂层测厚仪产品概述
MC-2000D型涂层测厚仪(镀层测厚仪)测量范围:10~9000um,它是*的结晶,它采用单片机技术,精度高、数字显示、示值稳定、功耗低、操作简单方便、触摸按键、单探头全量程测量、体积小、重量轻;且具有存储、读出、统计、低电压指示、系统校准,其性能达到当代同类仪器的*水平。
MC-2000D涂层测厚仪应用范围
本仪器采用磁性测厚法,可以方便无损地测量铁磁材料上非磁性涂层的厚度,如钢铁表面上的锌、铜、铬等镀层或油漆、搪瓷、玻璃钢、喷塑、沥青等涂层的厚度。该涂层测厚仪器广泛应用于机械、汽车、造船、石油、化工、电镀、喷塑、搪瓷、塑料等行业。
MC-2000D涂层测厚仪工作原理:
MC-2000D型涂(镀)层测厚仪采用电磁感应法测量涂(镀)层的厚度。位于部件表面的探头产生一个闭合的磁回路,随着探头与铁磁性材料间的距离的改变,该磁回路将不同程度的改变,引起磁阻及探头线圈电感的变化。利用这一原理可以精确地测量探头与铁磁性材料间的距离,即涂(镀)层厚度。
MC-2000D涂层测厚仪产品性能
1、测量范围: 10~9000um
2、测量误差: <3%±1um
3、zui小示值: 1um
4、显示方式: 4位液晶数字显示
5、主要功能:
(1).测量: 单探头全量程测厚
(2).存储、删除: 可存入测量数据600个,对测量中的单个可疑数据进行删除,也可以删除存储区内的所有数据。
(3).读: 读出已存入的测量数据
(4).统计: 设有三个统计量,平均值zui大值zui小值
(5).校准: 可进行系统校准
(6).电量: 具有欠压显示功能
(7).打印: 可打印测量值,选配微型打印机
(8).关机: 具有自动关机和手动关机两种方法
6、电源: 两节1.5v电池
7、功耗: zui大功耗100mw
8、外形尽寸: 51mm*126mm*27mm
9、重量: 160g(含电池)
10、使用环境温度: 0℃~+40℃ 相对湿度:不大于90%
11、基体zui小厚度: 0.5mm
12、基体zui小平面的直径: 7mm
13、zui小曲率半径: 凸:1.5mm 凹:6mm
14、欠电压指示: 右上角显示""
*临界厚度小:工件铁基厚度大于1mm时,其涂(镀)层厚度的测量不受铁基厚度
MC-2000D型涂层测厚仪配置单
MC-2000D说明书下载
1、MC-2000D型涂镀层测厚仪 一台
2、七号电池 二节
3、探头 一支
4、标准样片 一盒
5、小铝箱 一个
6、说明书、合格证 一套
选配件:
1、打印机及通讯打印连线 1套
2、微机通讯软件 1盘
3、内防腐探头
注意金属基体材质
不同金属基体材料的磁性、导电率是不相同的,这都会对测量结果造成影响[9]。采用磁性法测厚受基体金属磁性变化的影响(在实际应用中,低碳钢磁性的变化可以认为是轻微的),为了避免热处理和冷加工因素的影响,应使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准,亦可用待涂覆试件进行校准。由于基体金属的成分及热处理方法不同,导致其电导率不同,因此应使用与被检测试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准。
注意检测试件形状
在实际生产中,工件的材料厚度、形状、表面粗糙度等存在差异,这些差异会对实际测量结果造成影响。每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度,大于这个厚度,测量就不受基体金属厚度的影响,如果试件材料厚度小于仪器所要求的临界厚度,检测结果就会与实际厚度有差别。一些仪器对试件表面形状的陡变十分敏感,因此在靠近试件边缘或内转角处进行测量的数值会不可靠,实际测量时应选择远离边缘和内转角的部位。试件表面不仅存在形状的陡变,还可能存在不同的曲率,一些仪器的测量结果总是随着曲率半径的减小明显地增大。因此,即使在选择仪器时考虑了zui小曲率半径,测量时仍应尽可能选择在平面部位进行测量。
以上也是在选择测厚仪器时需要考虑zui小曲率半径、zui小测量面积、zui小基体厚度的原因。