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目录:广东爱佩试验设备有限公司>>冷热冲击试验机>>二箱式冷热冲击试验机>> 2AP-CJ-80A二箱式冷热冲击试验机

二箱式冷热冲击试验机
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参考价 20000
订货量 ≥1
具体成交价以合同协议为准
20000
≥1
具体成交价以合同协议为准
  • 品牌
  • 型号 2AP-CJ-80A
  • 厂商性质 生产商
  • 产品资料 下载
  • 所在地 东莞市
属性

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更新时间:2024-11-04 16:28:06浏览次数:4354评价

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二箱式冷热冲击试验机是一种用于模拟产品在不同温度条件下的性能测试的设备。它通常由两个相邻的试验箱组成,一个用于低温环境,另一个用于高温环境。这些试验箱之间有一个可移动的样品槽,用于将待测试物体放置其中。
  二箱式冷热冲击试验机是一种用于模拟材料、零部件或产品在不同温度变化环境下的性能测试设备。它包含两个相互独立的测试箱,一个用于低温冷却,另一个用于高温加热,通过将样品迅速转移到不同温度环境中来模拟温度冲击。
 
  该试验机具有以下主要特点和功能:
 
  1、两个测试箱:一个用于低温环境,一个用于高温环境,两者相互隔离。
 
  2、控制系统:设备配备了*的控制系统,可精确控制温度和温度变化速率。
 
  3、温度范围:可以根据需要选择不同的温度范围,通常可以覆盖从极低温到高温的范围。
 
  4、冲击方式:可根据需求选择气体冲击、液体冲击或机械冲击等方式进行温度转换。
 
  5、安全性能:设备通常具有安全保护功能,如过温保护、压力保护和电路故障保护等。
 
  6、数据记录和分析:一些二箱式冷热冲击试验机配备了数据记录和分析系统,可对测试过程进行监控和记录,并生成相应的测试报告。
 
  目前爱佩公司生产的二箱式冷热冲击试验机主要销往于这些工业:光电、LED、显示器、显示屏、军工,航天,航空,手机连接器,PCB连接器,FPC连接器,电感器、电脑连接器,电源连接器,信号连接器,滤波器、变压器,电子,电器,电子产品,电子元器件,数码产品,手机,电脑,太阳能组件,光伏组件,光纤,LCD,PCB,FPC,微电子,电机,汽车灯产品及零部件等大型产品或者大型零部件。这些大型产品使用此试验箱的好算就是不用切割,不用拆封及分体分量试验。
 
  二箱式冷热冲击试验机基本参数:
 
  温度范围:(A=-40℃,B= -55℃,C=-65℃℃)~+100℃(+150℃)
 
  热销的型号有2AP-CJ-80A    2AP-CJ-150A系列:
 
  试验架尺寸(W×H×D):200mm×130mm×200mm  50mm×280mm×350mm
 
  低温槽尺寸(W×H×D):400mm×500mm×400mm  55mm×650mm×550mm
 
  高温槽尺寸(W×H×D)mm:400mm×400mm×400mm  550mm×550mm×550mm
 
  3AP-CJ-50A  3AP-CJ-150A  AP-CJ-225A系列:
 
  内箱尺寸(W×H×D)mm:350×350×400    500×400×400  600×500×500   750×600×500
 
  外箱尺寸(W×H×D)mm:1450×1950×1600  1550×2050×1600   1650×2150×1800  1850×2200×1800
 
  样品架承重量:2.5kg或者5.0kg(也可非标定制)
 
  低温槽温度上升时间:40min   80min
 
  低温槽温度下降时间:70min    80min   90min
 
  高温槽温度:60℃~200℃
 
  低温槽温度:-55℃~-10℃
 
  试物移动时间:10秒钟内
 
  控制方式:微电脑控制+PID+SSR
 
  冷媒:杜邦环保冷媒HFC
 
  安全装置:超温保护,压缩机过负载保护装置,控制系统过载保护,高低压保护开关
 
  内箱材质:SUS304优质不锈钢,此不锈钢具有良好的耐蚀性、耐热性,低温强度和机械特性;冲压、弯曲等热加工性好,无热处理硬化现象(无磁性,使用温度-196℃~800℃)
 
  外箱材质:优势钢板镀锌防锈处理,外附高级树脂烤漆涂装,不易脱落,不易变色,经久耐用,高档美观。
 
  满足以下标准:
 
  GB/T2423.1-2008 电工电子产品环境试验 第2部分试验方法 试验A 低温
 
  GB/T 2423.2-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验B:高温
 
  GB/T 10592 -2008 高低温试验箱技术条件
 
  GB/T 10589-2008 低温试验箱技术条件
 
  GB/T 11158-2008 高温试验箱技术条件
 
  GB/T 5170.1-2008 电工电子产品环境试验设备检验方法 总则
 
  GB/T5170.2-2008 电工电子产品环境试验设备检验方法 温度试验设备
 
  GB2424.1 电工电子产品环境试验 高低温试验导则
 
  GB/T2423.22-1989温度变化试验;
 
  GB/T 2423.22-2002温度变化
 
  GB/T 2424.13-2002试验方法温度变化试验导则
 
  GJB150.3A-2009 军装备实验室环境试验方法第3部分高温试验
 
  GJB 150.4A-2009 军装备实验室环境试验方法 第4部分:低温试验
 
  GJB 150.5A-2009 军装备实验室环境试验方法 第5部分:温度冲击试验
 
  GJB367.2-1987 军通信设备通用技术条件 环境试验方法
 
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