本仪器采用准动态法（具有技术）和四探针法分别测量样品的 seebeck 系数和电阻率。不
仅可用于测量半导体块状样品，康铜、镍、铋等金属半金属样品，石墨、碳材料等非金属样品的
seebeck 系数和电阻率，还可测薄膜（纳米）样品的 seebeck 系数和电阻率。

*优势
拥有独立知识产权，获得多项技术；
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动态法测量 seebeck 系数，避免了传统静态测量法在温差测量方面的系统误差，测量更准确；
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seebeck 系数和电阻率测量不共用电压探针，避免出现微型热电偶断裂失效的问题；
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采用双向加热系统；
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自动断电保护；
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附有薄膜附件（无需主机，直接使用），可直接测量薄膜材料常温下的 seebeck 系数和电阻率。