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美国Calmetrics 电镀膜厚标准片
美国Calmetrics 电镀膜厚标准片每片厚度均通过美国国家标准与技术研究院(National Institute of Standards and Technology，NIST）鉴定机构认证（有证书）,其专门为仪器大厂如Fischer、Oxford、Thermo、Veeco、Micro Pioneer、Seiko等生产制作标准样品。
又名膜厚仪校准片，专业用于X射线测厚仪（膜厚仪）在测金属镀层厚度时进行的标准化校准及建立测试档案。也就是我们在膜厚测试中常用的标准曲线法，是测量已知厚度或组成的标准样品，根据荧光X-射线的能量强度及相应镀层厚度的对应关系，来得到标准曲线。之后以此标准曲线来测量未知样品，以得到镀层厚度或组成比率。对于PCB、五金电镀和半导体等行业使用测厚仪来检测品质和控制成本起到了很重要的作用。
薄片类型：（以下为常规厚度，上海益朗仪器有限公司http://www.shylyq。。ｃｏｍ接受非标定做）
量测成份： | 厚度值（单位：μm） |
ALUMINUM (Al) | 1.00、3.00、5.00、12.5 |
CADMIUM (Cd) | 1.00、2.00、5.00、10.0、15.0 |
CHROMIUM (Cr) | 0.05、0.10、0.25、0.50、1.00、2.00、5.00、10.0 |
COBALT (Co) | 0.05、0.10、0.25、0.50、1.00、2.00、3.00 |
COPPER (Cu) | 0.10、0.25、0.50、1.00、2.00、5.00、10.0、20.0、35.0 |
GOLD (Au) | 0.05、0.10、0.25、0.50、1.00、2.00、3.00、5.00 |
IRON (Fe) | 2.00、6.00 |
LEAD (Pb) | 0.25、1.00、2.00、4.00、9.00 |
NICKEL (Ni) | 0.10、0.25、0.50、1.00、2.00、2.50、3.00、5.00、8.00、10.0、20.0、27.5 |
NICKEL-PHOSPHORUS (Ni-P, 8% P) | 2.50、6.00、9.00、18.0 |
PALLADIUM (Pd) | 0.10、0.25、0.50、1.00、2.00、3.00、5.00 |
PLATINUM (Pt) | 0.50、1.00 |
SILVER (Ag) | 0.10、0.25、1.00、2.00、5.00、10.0、20.0、30.0 |
SOLDER (Sn-Pb) | 5.00、6.00、10.0、14.0（60%Sn）5.00、6.00、14.0（90%Sn） |
TIN (Sn) | 0.10、0.25、0.50、1.00、2.00、5.00、10.0、20.0、40.0、60.0 |
TITANIUM (Ti) | 0.50、1.00、5.00、10.0 |
ZINC (Zn) | 2.50、10.0、20.0 |
用于校正X射线金属镀层测厚仪，通用于所有品牌所有型号的XRF机器。对XRF机器进行检验和校正。