双波段发射率测量仪型号：IR-2

可在航天航空红外隐身、红外烘烤、建材、造纸、纺织等行业用于对材料红外辐射特性的测量研究。
发射率是材料热物性的基本参数之一。新型发射率测量仪是采用反射率法的测试原理，即通过采用主动黑体辐射源测定待测物表面的法向反射率，进而测出其在特定红外波段的法向发射率的。它能测量常温样品在3μm-5μm，8μm-14μm和1μm-22μm三个波段的发射率。当有特殊需要时，它可通过专用的控温装置在-100℃~600℃任何温度范围内加热或冷却样品，从而对样品进行发射率变温测量。
特点：
1.仪器中装有小型标准黑体辐射源和六位高精度微机控温仪（能显示到1mK）不仅使它具有稳定的宽光谱测量范围，而且还极大地提高了其在测量时的可靠性和稳定性。
2.采用*的光学调制技术，测量不受被测物表面辐射及环境辐射的影响。
3.为了确保仪器的测量精度，在仪器设计中，考虑到样品漫反射引起的测量误差，除镜反射（MR）探通道外，还增设了专门的漫反射（DR）补偿通道。
4.在信号及电子学处理技术上采用锁相技术和微电子技术，较好地实现了对微弱信号的探测，进一步提高了仪器性能。
5.操作简单，使用方便，测量速度快。
6.可按需更换滤光片，在多个红外光谱波段内进行测试。
7.在测量过程是不会损伤被测样品。
8.带RS-232串口及复位键RST。
主要技术指标：
1.测量波段3～5μm，8～14μm、1～22μm（若用户有特殊要求，可定制不同波段滤光片）
2.发射率测量范围：0.1～0.99
3.灵敏度NE△ε：0.001
4.示值误差：±0.02（ε>0.50）
5.重复性：±0.01
6.样品温度：常温(-100℃～600℃）
7.样品尺寸：直径≥50mm
8.测量时间：3秒
9.显示方法：LED数字显示，末位0.001
10.电源：交流22V  50Hz