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美国DeFelsko 6000NAS1涂层测厚仪
6000NAS1基本型涂层测厚仪测量铝阳极氧化膜的厚度,
6000NAS1涂层测厚仪技术参数：
量程::0～625μm
精度：0～100μm时±(0.5μm +1%);
>100μm时±(2μm +3%)
6000NAS1涂层测厚仪标准配置:主机、探头、标准试片、带腰夹的橡胶保护套、三节7号电池、证书、说明书、尼龙包各一
美国DeFelsko 6000系列涂层测厚仪选型表：
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