电子电器零组件、金属、化学材料、自动化零部件、通讯组件、国防工业、航天工业、BGA、PCB基板、电子芯片IC、半导体陶瓷及高分子材料之物理性变化的理想测试工具.

　　低温冲击实验箱技术规格

　　◥型号：OK-TS-49B

　　◥内箱尺寸：40×35×30cm

　　◥高温槽温度范围：RT-100℃

　　◥低温槽湿度范围：-40℃～-10℃

　　◥试验箱冲击温度：高温:RT-100℃ ;低温: -10℃～-40℃

　　◥升温时间：RT-100℃约需15分钟

　　◥降温时间：RT～-40℃约需60分钟

　　◥冲击时间:0.1～999.9小时,循环周期1～9999可设定.

　　◥冲击恢复时间：高温(100℃)冲击30分钟,低温(-40℃)冲击30分钟;冲击恢复时间:5分钟以内.

　　◥试样重量：1.5kg

　　◥结构材质：全机为SUS不锈钢板雾面处理，内箱为SUS#304镜面不锈钢

　　◥冷冻系统：复叠水冷式欧美进口全封闭或半密闭式压缩机组.

　　◥控制器：大型LED彩色触控人机界面控制器or单显LED触控人机接口控制器.

　　◥安全保护装置：无熔丝过载保护器，压缩机过热、过流、超压、加热干烧、箱内超温警报系统.

　　◥配 件：测试孔(φ50×1只)，试料架(2组)

　　低温冲击实验箱特点

　　◥温度高低试验箱(三箱)的三箱设备区分为：高温区、低温区、测试区三部分，测试产品置于测试区，冲击时高温区或低温区的温度冲入测试区进行冲击, 测试产品为静态式。

　　◥采用触控式图控操作介面，操作筒易。

　　◥冲击方式应用风路切换方式将温度导入测试区，做冷热冲击测试。

　　◥高温冲击或低温冲击时，大时间可达999H，大循环周期可达9999次。

　　◥系统可作自动循环衙擎或手动选择性冲击并可设定二区或三区冲击及冷冲热冲启始。

　　◥冷却采二元冷冻系统，降温效果快速，冷却方式为水冷式

　　温度高低试验箱特性:

　　◥全新欧美之防爆把手,的造型设计,外观质感高水准.

　　◥采用大型人机触控对话式LED人机接口控制器,操作简单,学习容易,稳定可靠.

　　◥冲击方式采用风格切换方式,将冷、热温度导入测试区实现冷热冲击测试目的.

　　◥冲击时间0.1～999.9小时,循环周期1～9999次可设定.

　　◥可设定循环次数及除霜次数自动(手动)除霜.

　　◥运转中状态显示及曲线,异常及故障点显示说明及排除方法.

　　◥欧美高效率复迭压缩冷冻机组,运转噪音地，省能源之设备

　　◥采用PID自动演算控制功能,温度控制精度高

　　◥可作自动循环冲击或手动选择性冲击并可选择二槽或三槽式冷冲、热冲进行冲击.

　　◥可独立担当高温箱或低温箱使用,一机三用.

　　◥采用对臭氧系数为零的绿色环保(HFC)制冷剂R404、R23.

　　温度高低试验箱(三箱)执行满足标准及试验方法

　　◥GJB150.5 温度冲击试验

　　◥GJB360.7温度冲击试验

　　◥GB/2423.22 温度冲击试验