利用光弹调制器技术，Hinds 公司的应力双折射测量系统(残余应力测量)可以在深紫外（193nm）波段进行应力双折射探测。针对特定材料制作（氟化钙）和特定形状（非球面透镜）的技术解决方案。

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Hinds 公司的不规则非球面光学元件应力分布测量系统（应力双折射测量系统）通过对光的调制解调可以测出待测光学元件中的双折射大小和方向，这些数据同时也表示了应力的大小和方向。Hinds 公司这套不规则非球面光学元件应力分布测量系统的倾斜，多角度入射扫描技术可以保证对非球面不规则的光学元件（光刻机透镜等）有着的扫描测量解决方案。