Hinds 参考价：面议
美国Hid Itruemt -LCD材料的超低阶双折射测量在与众多的光学材料制造商合作多年后，Hinds 仪器公司推出了Exicor 1500AT系统，用于测量...
残余应力测量 参考价：面议
该系统利用PEM调制光束的偏振状态、先进探测和解调电子来测量光学如何改变偏振状态。这就导致了一个偏振状态相对于另一个偏振状态的光延迟测量结果是90°。...
残余应力检测 参考价：面议
150AT 应力双折射系统是Hinds应力双折射测量系统家族系列产品，用于残余应力检测。该应力双折射测量系统既可作为实验室科研探索测量光学组件应力分布测量，也可...
应力双折射 参考价：面议
Hinds Itruments 的ExicorOIA 是透镜、平行面光学、曲面光学在正常和斜入角度评估的主要应力双折射测量系统。该系统是建立在Hinds lrt...
穆勒矩阵测量系统 参考价：面议
穆勒矩阵测量系统中采用四个光弹性调制器(PEM)，150XT Mueller偏振计可以在短时间内同时测量所有十六个穆勒r矩阵元素和样品的完整偏振特性。 Hind...
应力双折射测量系统 参考价：面议
Hinds 仪器的应力双折射测量系统Exico-150AT是Exicor®双折射测量系统系列产品的工作平台。 该系统具有足够的多样性，在生产车间和研发...
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