A1525全聚焦相控阵超声波探伤仪
产品特点：
通过INTROVIEW®软件缺陷可视化
超声测试数据的 3D 成像
B、C&D-Scan图像与定量缺陷评估
多功能报告功能
轻便便携式相控阵超声检测仪
使用多元合成孔径聚焦技术的全聚焦方法
配合标准试块实现半自动空间灵敏度校准
B、C&D-Scan成像能力
单通道探伤仪模式和相控阵模式下的常规 A -Scan视图
A1525全聚焦相控阵超声波探伤仪特殊功能：
多元合成孔径聚焦技术/多重反射叠加，实现准确的缺陷可视化和分析
配合标准试块实现半自动灵敏度校准
2D 空间灵敏度调整以根据常见的标准发现并评价小缺陷，实现准确定量和定位
新型微楔传感器技术——无楔块多重反射信号且无伪影
规格参数：
| 相控阵数据处理技术： | 全对焦方式 |
| 阵元数/通道数： | 16 |
| 操作频率： | 1,0; 1,8; 2,5; 4,0; 5,0; 7,5; 10,0 MHz |
| 动态范围： | 100 dB |
| 显示分辨率/类型： | 640 x 480 / TFT |
| 电池操作时间不小于： | 6 h |
| 尺寸： | 260 х 157 х 43 mm |
| 重量： | 0.8 kg |
| 工作温度范围： | 从 -10 到 +55 ℃ |
特殊功能：
多元合成孔径聚焦技术/多重反射叠加，实现准确的缺陷可视化和分析
配合标准试块实现半自动灵敏度校准
2D 空间灵敏度调整以根据常见的标准发现并评价小缺陷，实现准确定量和定位
新型微楔传感器技术——无楔块多重反射信号且无伪影
订货编号：LR-200575
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