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产品简介
详细介绍
QNix8500涂层测厚仪
产品优点：
• QNix8500涂层测厚仪/膜厚计只需调零，无需校准
• 测量精度高
• 一体分体通用
• 可配多种探头
• 中英文菜单操作
• 智能化
• 带存储，并可连计算机对数据进行处理分析
• 可连接薄镀层探头，对极薄的镀层厚度精确测量，误差小于±3um
QNix8500涂层测厚仪/膜厚计可选探头：
• Fe铁基探头： 0－2000μm 0－5000μm
• NFe非铁基探头: 0－2000μm 0－5000μm
• NFe/Fe两用探头：0－2000μm 0－5000μm
• 无线传输探头
• 薄镀层探头
QNix8500涂层测厚仪/膜厚计主机
基 体：Fe、NFe、NFe\NFe
探头形式：一体、有线分体、无线分体
显 示：LCD液 晶 显示
测量范围：
0－2000μm
0－5000μm
测量精度：
0－2000μm： ≤±2％
2000－5000μm：≤±3％
zui小基体;
Fe：10mm×10mm NFe：6mm×6mm
zui薄基体；
Fe：0.2mm NFe：0.05mm
zui小曲率 ;
凸半径：5mm 凹半径：30mm
储存温度:－10℃ --－ 60℃
温度补偿范围: 0℃ --－ 60℃
电 源：2节1.5V干电池
尺 寸：124mm×67mm×33mm
重 量：120g（含电池及探头）
存 储：一个数据组，1000个测量值
数据传输：通过USB模块和电脑无线传输
统计功能：平均值，zui大值，zui小值，标准偏差
