X 射线荧光分析技术（XRF）作为一种快速分析手段，为我国的相关生产企业提供了一种可行的、低成本的、并且是及时的，检测、筛选和控制有害元素含量的有效途径；相对于其他分析方法（例如：发射光谱、吸收光谱、分光光度计、色谱质谱等），XRF 具有无需对样品进行特别的化学处理、快速、方便、测量成本低等明显优势，特别适合用于各类相关生产企业作为过程控制和检测使用。

X 射线荧光分析技术可以分为两大类型：能量色散X 射线荧光分析（EDXRF）和波长色散X 射线荧光分析（WDXRF）；而能量色散型又根据探测器的类型分为（Si-PIN）型和SDD 型。在不同的应用条件下，这几种类型的技术各有其突出的特点。

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