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近场探头EM5030(DC-3G)

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更新时间:2017-02-27 15:22:36浏览次数:1675

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产品简介

近场探头EM5030(DC-3G)是一款主要用于查找干扰源,判定干扰产生原因的高性价比近场探头。可用来检测器件表面的磁场方向以及强度;检测模块附近的磁场环境。为了降低干扰,寻找到真正的干扰源或者是其传播的途径是非常有必要的

详细介绍

近场探头EM5030(DC-3G)

 

概述:

近场探头EM5030(DC-3G) 是一款主要用于查找干扰源,判定干扰产生原因的高性价比近场探头。可用来检测器件表面的磁场方向以及强度;检测模块附近的磁场环境。为了降低干扰,寻找到真正的干扰源或者是其传播的途径是非常有必要的,通过近场探头测量可以很方便地实现定位功能。通过配合EM5020A(20dB增益)或者EM5020B(30dB增益)前置放大器可以提高系统测试灵敏度。

技术参数:

订购信息:

          EM5030  近场探头(3G)

标准配置:4根探头、N型转接头、连接线、包装箱;

 

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