3380-P VLSI測試系統

3380-P VLSI測試系統

主要特色：

• 85 MHz 測試頻率
• 512 logic I/O pins ( zui高可至 576 pins)
• 平行測試可達 512 devices
• 16/32 M Pattern 記憶體
• 多樣彈性 VI 電源
• 彈性化硬體結構 (可互換式 I/O, VI, ADDA)
• Real parallel Trim/Match 功能
• 時序頻率測試單位 (TFMU)
• AD/DA 功能卡 選配 (16 ~24 bits)
• SCAN 測試功能 選配 (1G/Board)
• ALPG 測試 選配供記憶體IC用
• STDF 工具支援
• 測試程式/pattern 轉換器 (J750, D10, V50, E320, SC312, V7, TRI-6020,ITS9K)
• 人性化 Window 7操作環境
• CRAFT C/C++ 程式語言
• 程式語言同3360P & 3360