3360-P VLSI測試系統

3360-P VLSI測試系統

主要特色：

• 25/50 MHz 測試頻率
• 25/50 Mbps data rate
• 256 logic I/O pins
• 8M (標準) /16M (選購) Pattern 記憶體
• 彈性化硬體結構 (互換式 I/O, VI, ADDA, and LCD)
• 平行測試可達 32 devices
• Real parallel Trim/Match 功能
• 時序頻率測試單位 Time & Frequency Measurement Unit (TFMU)
• 測試程式/pattern 轉換器 (V7, TRI6020, V50, E320, SC312, D10,J750, ITS9K, TS670 )
• AD/DA卡 選配 (16 ~24 bits)
• SCAN 測試 選配 (max 512M/chain)
• ALPG 測試 選配供記憶體用
• STDF 工具支援
• 人性化 Windows XP 操作環境
• CRAFT C/C++ 程式語言