3360-D VLSI測試系統

3360-D VLSI測試系統

主要特色：

• 50 MHz 測試頻率
• 32/64 個 I/O 通道
• 8M (標準) /16M (選購) Pattern 記憶體
• 彈性化硬體結構
• 平行測試 : zui多 8 DUTs
• Real Parallel Trim/Match 功能
• 時序頻率測試單位 Timing / Frequency measurement unit (TFMU)
• 測試程式/pattern 轉換器 (V7, V50, SC312, J750)
• Analog PE card 選配 (16 bits)
• SCAN 測試 選配 (512M)
• ALPG 測試 選配供記憶體用
• STDF 工具支援 (選配)
• 人性化 Windows XP 操作環境
• CRAFT C/C++ 程式語言
• 即時pattern編輯器，含Fail pin/address顯示
• 多樣化的測試解析工具 : Shmoo plot, Waveform display, Wafer Map, Pin Margin, Scope tool, Histogram tool and etc.