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详细摘要：本测试装置是由二只测微电容器组成，平板电容器一般用来夹持被测样品，园筒电容器是一只分辨率高达0.0033pF的线性可变电容器，配用仪器作为指示仪器，绝缘材料的损耗角正切值是通过被测样品放进平板电容器和不放进样品的Q值变化，由园筒电容器的刻度读值变化值而换算得到的。同时，由平板电容器的刻度读值变化而换算得到介电常数。 产品型号：GDAT-A所在地： 参考价：面议
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详细摘要：北广仪器保证提供的设备为需方的全新设备，其各项技术指标均符合相关的产品技术要求。 2、设备经客户验收合格后，开始计算保修期，设备免费保修期为壹年，设备在质量保质期内，产品在非人为损坏的情况下，由北广仪器负责全保。北广仪器的客服在得到通知后24小时内响应，安排约定维修细节。 产品型号：GDAT-A所在地： 参考价：面议
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详细摘要：绝缘介电常数测试仪性能： 固体绝缘材料测试频率100kHz～100MHz的tan δ 和 ε 变化的测试。 tan δ 和 ε 测量范围：tan δ：0.1～0.00001，ε：1～50 tan δ 和ε 测量精度（1MHz）：tan δ：±5%±0.00005，ε：±2% 产品型号：GDAT-A所在地：北京 参考价：面议
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详细摘要：介质损耗角测量仪工频 BQS-37a型高压电桥采用典型的西林电桥线路。C4桥臂在基本量程时，与R4桥臂并联，测量数值为正损耗因数。结构采用了双层屏蔽。并通过辅桥的辅助平衡，消除寄生参数对电桥平衡的影响。 产品型号：BQS-37A所在地：北京 参考价：面议
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详细摘要：工作特性 1．Q值测量 a．Q值测量范围：2～1023； b．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档； c．标称误差 AC 频率范围25kHz～10MHz100kHz～10MHz 固有误差≤5％±满度值的2%≤5％±满度值的2% 工作误差≤7％±满度值的2%≤7％±满度值的2% 频率范围10MHz～60MHz10MHz～160MHz 固 产品型号：GDAT-A所在地：北京 参考价：面议
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详细摘要：介电常数介质损耗测试仪特点： ◎ 本公司创新的自动Q值保持技术，使测Q分辨率至0.1Q，使tanδ分辨率至0.00005 。 ◎ 能对固体绝缘材料在10kHz～120MHz介质损耗角(tanδ)和介电常数(ε)变化的测试。 ◎ 调谐回路残余电感值低至8nH，保证100MHz的(tanδ)和(ε)的误差较小。 ◎ 特制LCD屏菜单式显示多参数：Q值，测试频率，调谐状态等。 ◎ Q值量程自 产品型号：GDAT-A所在地：北京 参考价：面议
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详细摘要：介电常数介质损耗测试仪装置： 2.3.1 平板电容器极片尺寸：:Φ38mm和Φ50mm二种. 2.3.2 平板电容器间距可调范围和分辨率：0～8mm， ±0.01mm 2.3.3 圆筒电容器线性： 0.33 pF /mm±0.05 pF, 2.3.4 圆筒电容器可调范围：±12.5mm（±4.2pF） 2.3.5 装置插头间距：25mm±0.1mm 2.3.6 装置损耗角正切值:≤2.5×10 产品型号：GDAT-A所在地：北京 参考价：面议
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详细摘要：2 使用条件 ①环境温度： 0～40℃ ②相对温度：≤70% ③供电电流：交流 220V±10%50Hz 2.3 仪器可连续工作 8 小时 2.4 消耗功率：约 10W 2.5 外形尺寸：长宽深 355mm×320mm×145mm 2.6 重量：约 6kg(主机) 产品型号：GDAT-A所在地：北京 参考价：面议
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详细摘要：介电常数介质损耗测试仪 产品型号：所在地：北京 参考价：面议
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详细摘要：介质损耗角测试仪型号：GDAT-A主要特点：空洞共振腔适用于CCL/印刷线路板，薄膜等非破坏性低介电损耗材料量测。 印电路板主要由玻纤与环氧树脂组成的, 玻纤介电常数为5~6, 树脂大约是3, 由于树脂含量, 硬化程度, 溶剂残留等因素会造成介电特性的偏差, 传统测量方法样品制作不易, 尤其是薄膜样品( 小于 10 mil) 量测值偏低,。 产品型号：GDAT-A所在地：北京市海淀区上地十街辉煌国际西6号楼4层0426 参考价：面议
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详细摘要：介质损耗测量仪空洞共振腔适用于CCL/印刷线路板，薄膜等非破坏性低介电损耗材料量测。 印电路板主要由玻纤与环氧树脂组成的, 玻纤介电常数为5~6, 树脂大约是3, 由于树脂含量, 硬化程度, 溶剂残留等因素会造成介电特性的偏差, 传统测量方法样品制作不易, 尤其是薄膜样品( 小于 10 mil) 量测值偏低,。 产品型号：GDAT-A所在地：北京市海淀区 参考价：面议
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详细摘要：介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数（ε），可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；仪器的基本原理是采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。 产品型号：GDAT-a所在地：北京市海淀区 参考价：面议
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详细摘要：介质损耗因数试验仪/介电常数测试仪 满足标准：GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法 产品型号：gdat-c所在地：北京 参考价：面议
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详细摘要：广东介电常数测试仪介质损耗是用于衡量绝缘体储存电能的性能. 它是两块金属板之间以绝缘材料为介质时的电容量与同样的两块板之间以空气为介质或真空时的电容量之比。 产品型号：GDAT-A所在地：北京北广精仪 参考价：面议
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北京北广精仪仪器设备有限公司主营产品：绝缘强度耐电压击穿试验仪-高压电桥法介电常数测试仪-高电压击穿强度试验仪
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