X-RAY膜厚测量仪2020电镀层测厚仪
产品功能：
1. 采用X射线荧光光谱法无损测量金属镀层厚度,单镀层,双镀层,多镀层及合金镀层,不限基材！
1. 镀层元素范围：钛～铀，包含常见的金、镍、铜、银、锡、锌、金，铬，锌镍合金等。
2. 镀层层数：可测5层。
3. 测量产品位置尺寸：标准配备0.2mm准直器,测量产品大于0.4mm(可订制更小准直器)
4. 测量时间：通常15秒。
5. H型号机箱容纳样品尺寸：550 x 550 x 100 mm (长x宽x高)。
6 L型号机箱容纳样品尺寸：550 x 550 x 30 mm (长x宽x高)。
7. 测量误差：通常小于5%，视样品具体情况而定。
8. 可测厚度范围：通常0.01微米到60微米，视样品组成和镀层结构而定。
MicroP XRF-2020测膜仪韩国先锋
X-RAY膜厚测量仪2020电镀层测厚仪
快速无损测量电镀层厚度
测量镀金,镀镍,镀铜,镀铬,镍锌,镀银,镀锌镍,镀锡...不限基材
X射线镀层测厚仪X-RAY膜厚仪韩国XRF-2020
快速无损测量电镀层厚度:
检测电子电镀,五金件,端子连接器,半导体,PCB等镀层膜厚
应用各类镀层膜厚生产,来料检测等
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