X-RAY膜厚测试仪韩国XRF-2000L测厚仪
用于测量PCB及五金、连接器、半导体等产品的各种金属镀层的厚度。
只需要10-30秒即可获得测量结果
小测量面积为直径为0.2mm的圆面积;
测量范围：0-35um;
可测量电镀、蒸镀、离子镀等各种金属镀层的厚度
可通过CCD摄像机来观察及选择任意的微小面积以进行微小面积镀层厚度的测量
电镀膜厚仪型号功能XRF-2020测厚仪规格
XRF-2020L型:测量样品长宽55cm,高3cm:台面载重3kg
XRF-2020H型:测量样品长宽55cm,高10cm:台载重5kg
仪器全自动台面,自动雷射对焦,多点自动测量
多个准直器可选择：0.1mm,0.2mm,0.3mm,0.4mm,0.03*0.5mm
可配多个或单个准直器,准直器大小可自动切换
X-RAY膜厚测试仪韩国XRF-2000L测厚仪
快速无损测量
镀金，镀银，镀锡，镀银，镀镍，镀铜，镀锌镍合金等！
适应电子电镀表面处理,五金,端子连接器,半导体,PCB板
汽车零配件磁性材料等行业。
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