XRF-2020L测厚仪使方法膜厚测试仪功能

Microp XRF-2020L型

H型

PCB型

1． 仪器及附件均处开机状态（电脑，显示器）

2． 在程序库中选中与产品对应的曲线（产品需与曲线一致）

3．  打开仪器前盖，台面自动伸出

4．  将样品放入仪器台面，测量大致位置对准仪器红外对焦点

5．  关闭仪器前盖，仪器台面自动归位

6．  在显示器屏幕中用鼠标控制仪器台面微调，精确对准测试位置

7．  点击SART测试：

8．  测试过程中X-RAY指示灯亮红，此时严禁打开仪器前盖。

9．  测试时间15秒主窗口及数据表中显示测试产品厚度

10． X-RAY指示灯熄灭，打开仪器前盖，台面自动伸出

11． 取出样品，完成测试

韩国Microp XRF-2020测厚仪

快速无损测量

镀金，镀银，镀锡，镀银，镀镍，镀铜，镀锌镍合金等！

仪器规格

XRF-2020L型:测量样品长宽55cm,高3cm:台面载重3kg

XRF-2020H型:测量样品长宽55cm,高12cm:台载重5kg

仪器全自动台面,自动雷射对焦,多点自动测量

多个准直器可选择：0.1mm,0.2mm,0.3mm,0.4mm,0.03*0.5mm

可配多个或单个准直器,准直器大小可自动切换

镀层测厚仪使用方式韩国XRF-2020膜厚仪

X-RAY膜厚仪

X射线镀层测厚仪

韩国电镀测厚仪

X-RAY电镀测厚仪

微先锋XRF-2020

韩国Micro ioneer XRF-2020测厚仪

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