铁上镀锌镍合金测厚仪韩国XRF-2020
测试范围：1-25um
通过CCD镜头
观察快速无损测试电镀层膜厚
测量镀金,镀镍,镀铜,镀铬,镍锌,镀银,镀锌镍,镀锡...
可测单层,双层,多层,合金镀层,不限底材
微先锋X射线XRF测量原理：
X射线或粒子射线照射后，由于吸收多余的能量而变成不稳定的状态。
从不稳定状态要回到稳定状态，此物质必需将多余的能量释放出来
而此时是以荧光或光的形态被释放出来。
荧光X射线镀层厚度测量仪或成分分析仪的原理就是测量这被释放出来的荧光的能量及强度
来进行镀层厚度的分析及测量。
韩国Micro Pioneer XRF-2020测厚仪
检测电子电镀,五金电镀,端子连接器等产品电镀层厚度
测量镀金,镀银,镀镉,镀锌.镀镍,镀锡.镀铬,镀锌镍等
通过CCD摄像机来观察及选择任意的微小面积进行镀层厚度的测量
X射线荧光法无损镀层测厚仪
该技术已经被证实并且得到广泛应用，可以在无须样品破坏的情况下提供易于操作
快速和无损的分析。
XRF-2020两款型号并且具有不同大小的样品舱。
XRF-2020测厚仪XRF-2020L电镀膜厚仪产品功能：
采用X射线荧光测量金属镀层、覆盖层厚度
镀层元素测量范围：钛～铀
包含常见的金、镍、铜、银、锡、锌、铬、锌镍合金等。
测量镀层层数：多至5层。
XRF-2020标配：0.2mm准直器 测量样品位置直径大于0.4mm
测量时间：通常15秒。
XRF-2020H型 样品蕞大尺寸：550 x 550 x 100 mm (长x宽x高)。
XRF-2020L型 样品蕞大尺寸：550 x 550 x 30 mm (长x宽x高)。
测量误差：正负5%
可测厚度范围：通常0.03微米到35微米，视样品组成和镀层结构而定。
能同时定量测量5种镀层厚度。
探测器 高分辨气体正比计数探测器全自动X-Y-Z样品台
XRF-2020镀层测厚仪测试报告
测试报告内容：
测试产品的编号；
测试产品的准确标识；
测量日期
测试样品测量位置
报告的测量次数
测量产品大小值
平均值
标明准直器孔径和测量面积大小；
用于XRF-2020测厚仪
报告的测量值具有代表性的标准偏差；
与本标准方法的差别:
仪器全自动台面
自动雷射对焦,多点自动测量
多个准直器可选择：0.1mm,0.2mm,0.3mm,0.4mm,0.03*0.5mm
可配多个或单个准直器,准直器大小可自动切换
可广泛使用于电镀生产企业及成品来料检测
方便更有效控制产品电镀层厚度及品质。
可用于测量工件：PCB及五金工件、连接器端子接插件、半导体产品等各种金属镀层厚度。
测量时间只需要10-30秒即可获得测量结果
微先锋MicroP XRF-2020
可测单镀层,双多镀层,多镀层及合金镀层
镀银测量范围0.1-50um
镀镍测量范围0.5-30um
镀铜测量范围0.5-30um
镀金测量范围0.03-6um
镀锡测量范围1-60um
镀锌测量范围0.5-30um
锌镍合金测量范围1-25um
铁上镀锌镍合金测厚仪韩国XRF-2020
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