韩国XRF-2000X射线测厚仪精度
韩国XRF-2000X射线测厚仪精度
*层：±5%以内
第二层：±8%以内
第三层：±15%以内
韩国XRF-2000X射线测厚仪测试范围
Au 0.03-6um
Pd 0.03-6um
Ni 0.5-30um
Ni-P 0.5-30um
Sn 0.3-50um
Ag 0.1-50um
Cr 0.5-30um
Zn 0.5-30um
ZnNi 0.5-30um
SnCu 0.5-30um
韩国XRF-2000测厚仪配置
全自动台面
自动雷射对焦
多点自动测量 (方便操作人员准确快捷检测样品）
测量样品高度3cm 10cm 15cm 20cm 以内四种规格可选
测量样品长宽均为55cm
可测试单层，双层，多层及合金镀层厚度
每层镀层都可分开显示各自厚度.
测量时间：10－30秒
韩国XRF-2000X射线测厚仪精度:显示小数点后三位
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