LED支架铜上镀锡测厚仪：测量范围0.3-60um
韩国先锋Micro Pioneer镀层测厚仪
检测电子电镀层厚度：如镀金，镀镍，镀锌，镀锡，镀铬，镀锌镍
镀银等。
XRF-2000镀层测厚仪基本技术参数：
1、测量的厚度范围为0.03微米～35微米。
2、可满足的测量镀种为：镀金、镀锌、镀钯、镀铬、镀铜、镀银、镀锡、镀镍等
3、可满足单镀层、双镀层、多镀层、合金镀层测量，不限底料。
三、设备功能描述
兼容Microsoft Windows 操作系统
使用X荧光射线可作非接触非破坏快速分析膜层
拥有多种滤波器选择
各种样品单层至多层（5层），合金膜层与溶液均可测量
定点自动定位分析
光径对准全自动
影像重叠功能
自动显示测量参数
彩色区别测量数据
多重统计显示视窗与报告编辑应用2D/3D，
任意位置测量控制Y轴全自动控制镭射对焦与自动定位系统
多种机型选择X-ray运行待命
LED支架铜上镀锡测厚仪：测量范围0.3-60um
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