X-RAY膜厚测试仪韩国微先锋XRF-2020

韩国XRF-2000镀层测厚仪

检测电子电镀,化学电镀层厚度,

如镀金,镀镍,镀铜,镀铬,镍锌,镀银,镀钯,镀锡...
可测单层,双层,多层,合金镀层,
测量范围:0.03-35um
测量精度:±5%,测量时间只需30秒内便可准确知道镀层厚度
全自动台面,自动雷射对焦, 操作非常方便简单

Micro Pioneer

产地：韩国

型号：XRF-2020

功能及应用：

检测电子电镀,五金电镀,LED支架,端子连接器,半导体等电镀层厚度

可测试单镀层，双镀层，多镀层及合金镀层厚度

单层:

如各种底材上镀镍,镀锌,镀铜,镀银,镀锡,镀金等

双层:

如铜上镀镍再镀金,铜上镀镍再镀银,铁上镀铜再镀镍等

多层:

如ABS上镀铜镀镍再镀铬,铁上镀铜镀镍再镀金,铝上镀镍镀铜镀银等。

合金镀层：

铁上镀锌镍,铜上镀镍磷等

韩国MicroPioneer

XRF-2020测试范围   

镀金：0.03-6um

镀钯：0.03-6um

镀镍：0.5-30um

镀锡：0.3-50um

镀银：0.1-50um

镀铬：0.5-30um

镀锌：0.5-30um

镀锌镍合金：0.5-30um

仪器测试精度

表层：±5%以内

第二层：±8%以内

第三层：±15%以内

型号及规格

H型测量样品高12CM,长宽55cm

L型测量样品高3CM,长宽55cm

检测镀层厚度0.03-35um

X-RAY膜厚测试仪韩国微先锋XRF-2020