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高频光电导少子寿命测试仪/高频光电寿命测试仪 型号:GDW3-LT1C

参  考  价:面议
具体成交价以合同协议为准

产品型号GDW3-LT1C

品牌

厂商性质其他

所在地北京市

更新时间:2021-06-08 13:29:09浏览次数:1259次

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太阳能 硅片寿命 配已知寿命样片、配示波器

高频光电导少子寿命测试仪/高频光电寿命测试仪 LT-1C τ:5~6000μs ρ>0.1Ω•cm 型号:GDW3-LT1C
 
货号:ZH410

太阳能 硅片寿命 配已知寿命样片、配示波器

产品简介
1、用途
用于硅、锗单晶的少数载流子寿命测量,除需要有一个测量平面外,对样块体形严格要求,可测块状和片状单晶寿命。寿命测量可灵敏地反映单晶体内重金属杂质污染及缺陷存在的情况,是单晶的重要检测项目。
2、  设备组成
2.1、光脉冲发生装置
重复频率>25次/s      脉宽>60μs          光脉冲关断时间<1μs
红外光源波长:1.06~1.09μm(测量硅单晶)   脉冲电流:5A~20A
如测量锗单晶寿命需配置适当波长的光源
2.2、高频源
频率:30MHz       低输出阻抗      输出功率>1W
2.3、放大器和检波器
频率响应:2Hz~2MHz
2.4、配用示波器
配用示波器:频带宽度不低于10MHz,Y轴增益及扫描速度均应连续可调。
3、测量范围
可测硅单晶的电阻率范围:ρ≥0.1Ω·㎝(欧姆·厘米)
寿命值的测量范围:5~6000μs(微秒)

 


 



 

纸张光泽度仪

该款光泽度仪是按照检定规程JJG 696(镜向光泽度计和光泽度板)标准

电子水平仪

功能特点:$r$n1.自校正功能,水平仪需利用外部设备就可校正;$r$

高频光电导寿命测试仪(学校用) 型号:ZH8202

设备组成$r$n1.光脉冲发生装置:$r$n重复频率>25次/s$r$

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