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晶体三管正偏二次击穿热阻抗测试仪可测试NPN型晶体三管

时间:2017-12-27阅读:544
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晶体三管正偏二次击穿热阻抗测试仪 型号:NIJ-2989D 货号:ZH9808 
产品简介:
晶体三管正偏二次击穿、热阻抗测试系统可测试种型号中、大功率晶体管的二次击穿电压和热阻抗参数。系统软件基于微软视窗系统的操作环境,使您轻松掌握测试。
本系统采用计算机自动控制,为用户提供友好直观的操作界面,测试数据处理方便,自动绘制PD(热阻功率)曲线和二次击穿曲线,并求两曲线的交点,在该交点及其附近靠内一点测试器件的热阻值。
主要特点
正偏二次击穿电压测试可测试NPN型晶体三管,热阻抗测试可测试种型号中、大功率晶体管
测试方法灵活、开放:
灵活的M值测试,可控制测试过程中不测试M值而自行输入M值
可定时测试,稳态热阻测试也可定特定时间内zui大温差测试
加热电源可遥控也可手动
采用微机控制,基于Windows系统的控制软件,具有友好的人机交互界面,窗口填表式编程,测试结果以表格及图形曲线方式显示,使您轻松掌握测试。 
指标
加热电压源:0-300V 负载能力:3.,可根据用户需要进行功率扩展,zui大到10A
加热电流源IH:
电流量程       分辨力     精度
-250mA-250mA   122uA     ±(610uA+2%set)
±(250mA~2.5)A 1.22mA    ±(6.1mA+2%set)
±(2.~3.5)A  12.2mA    ±(61mA+2%set)
测量电流源IM
电流量程:-250mA~250mA
分 辨 力:122uA
精    度:±(244uA+0.5%set)
VBE电压表:
电压量程        分辨力    精度
-312.5~312.5mV  152.5uV  ±(1.22mV+1%Rdg)
±(312.5~625)mV 305uV    ±(1.22mV+0.8%Rdg)
±(0.625~1.25)V 0.61mV   ±(2.44mV+0.3%Rdg)
±(1.25~2.5)V   1.22mV   ±(2.44mV+0.25%Rdg)
VCE电压表
电压量程          分辨力     精度
-8.125~8.125V     3.97 mV   ±(7.94mV+0.25%Rdg)
±(8.125~16.25)V  7.94mV    ±(15.88mV+0.25%Rdg)
±(16.25~32.5) V  15.88mV   ±(31.76mV+0.25%Rdg)
±(32.5~65) V     31.76mV   ±(63.52mV+0.25%Rdg)
±(65~130) V      63.52mV   ±(127.04mV+0.25%Rdg)
±(260~300) V     127.04mV  ±(254.08mV+0.25%Rdg)
加热脉冲宽度
脉宽:1ms 2ms 5ms 10ms 20ms 50ms 100ms 200ms 500ms
      1s 2s 5s 10s 20s 50s 100s 200s 500s 1000s 2000s 5000s
(1s以上的测试需要测试盒使用散热器) 
参考点温度测量
测量范围:10℃~125℃
精    度:±0.5℃
 

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