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方块电阻测试仪/电阻测试仪

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产品型号GSZ-ST-21

品       牌

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所  在  地北京市

更新时间:2016-03-10 17:21:17浏览次数:1194次

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方块电阻测试仪/电阻测试仪
方块电阻测试仪是一种依照类似的国家标准和美国A.S.T.M标准,专门测量半导体薄层电阻(表面电阻)的新型仪器,可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜),金属薄膜……等同类物质的薄层电阻。

方块电阻测试仪/电阻测试仪  型号:GSZ-ST-21

方块电阻测试仪是一种依照类似的国家标准和美国A.S.T.M标准,专门测量半导体薄层电阻(表面电阻)的新型仪器,可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜),金属薄膜……等同类物质的薄层电阻。

该仪器以大规模集成电路为主要核心;用基准电源和运算放大器组成高精度稳流源;带回路有效正常指示电路;并配以大型LCD显示读数,使仪器具有体积小、重量轻、外形美、易操作、测量速度快、精度高的特点。

 

◆ 特点:
 

1

 采用大规模集成电路作为仪器的主要部分,测量准确稳定,低功耗;

2

 以大屏幕LCD显示读数,直观清晰;

3

 采用单个电池供电,带电池欠压指示;

4

 体积≤175mm X90mm X42mm,重量≤300g;

5

 特制之手握式探笔,球形探针、镀金探针有效接触被测材料及保护薄膜

6

 探头带抗静电模块
 
◆ 指标:
 

测量范围

 按方块电阻量值大小分为二个量程档:
  1.方块电阻 1.00~199.99Ω/□;
  2.方块电阻 10.0~1999.9Ω/□;

恒流源

 测量过程误差:≤±0.8%

模数转换器

 量程:0~199.99mv;
 分辨率:10μv;
 方式:LCD大屏幕显示;极性,超量程均自动显示;小数点同步显示;

测量不确定度

 在整个量程范围内,测量不确定度≤5%

四探针探头规格

 间距:1mm、1.59mm、3.8mm;偏差≤2%;游移率≤0.3%;绝缘电阻≥500MΩ

电源

 9V叠层电池1节

 

 

 

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电  话:/51666869/

传  真:                      

手  机:/             

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地  址:北京北洼路90号院16号楼317室(北京市地质工程勘察院院内)

 

 

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