NSG4070D射频传导抗扰度测试系统

AMETEK CTS 非常高兴地向广大客户发布 Teseq 品牌在 EMC抗扰度测试领域的全新产品——NSG 4070D 系列射频传导抗扰度测试系统。

作为一款先进的一体化机解决方案，NSG 4070D 系列包括以下非常突出的特点：

集成了信号发生器

可以产生 4 kHz - 1 GHz 的正弦信号，输出电平范围为 -60 dBm 至 +10 dBm。

调制能力

支持抗扰度标准常用的幅度调制（AM）和脉冲调制（PM），可灵活根据标准设置调制参数。

信号源的输出电平范围更宽

提供 - 60dbm 至 + 10dbm 范围内的输出功率，带来更大的灵活性，适应更加多样化的测试条件。

内置了射频功放模块

提供了覆盖不同频率范围和不同线性功率的多种功放模块，满足不同应用的需要。

支持外置功率放大器

还可集成外部的独立的射频功放以便构成系统，实现更宽的频率范围和/或更高的输出功率，从而满足扩展的测试要求。

灵活的外置设备切换功能

支持通过射频开关例如 SW 4070 开关单元，方便切换外部设备和电流监测探头例如 MD 4070 等设备。 

内置了多达 5 路的功率测量单元

3 路外部测量、2 路内部测量，可以轻松实现对内部的功放模块或者外部功放的前向和反向功率、电流等参数的测量。

EUT 监测能力

标配对被测物 EUT 的监测功能，可以通过数字 TTL 输入端口、24 V 数字输入端口和光纤输入端口来完成。此外，它可以监测高达 24 V 的模拟电压，精度为 6 mV，可以确保对设备性能的全面评估。

广泛的应用范围

可覆盖广泛的不同行业的标准，适用于汽车、医疗、军标、工业设备和消费电子产品。

与以前的 NSG 4070 系列相比，我们对新的 NSG 4070D 系列进行了显著的改进和提升。

AMETEK 全新设计

对主要部件进行了全面的重新设计，提高了整体产品的性能和可靠性。

重新定义了内置的功率模块的可选型号

提供四种功率模块，满足不同的测试需求。

3U 高度的紧凑型设计

所有型号均只有 3U 的机箱高度，不但适合实验室使用，还可便携到外场测试。

当代风格的操作界面

全新的用户界面，设计更精简、直观，操作更容易，带来用户体验的提升。

支持低频磁场抗扰度测试

其中两个型号可支持 IEC 61000-4-39 的低频磁场抗扰度测试。

可直接调用的相关标准的测试

已经编好相关的测试程序，直接调用即可，涵盖工业、汽车、和航空电子测试的主要应用。

插入损耗测量功能

为测量无源器件的插入损耗提供了专用的测量功能。