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下表显示不同测量周期所对应的zui大测量通道数的参考信息（使用Yokogawa专有软件时）：
测量周期与通道数之间的关系在很大程度上取决于PC性能。实际性能可能与上表所示不同。
<PC系统要求>
CPU：Pentium 4 3.2 GHz；内存：1GB；OS：Windows 2000；硬盘：160GB
通信接口：以太网100Base-TX
一个系统可以通过多种组合方式使用3种测量周期。可对每个模块测量周期。不同类型的输入模块可设置相同的测量周期，相同类型的输入模块也可设置不同的测量周期。有12个测量周期作为选件供用户选择：10ms、50ms、100ms、200ms、500ms、1s、2s、5s、10s、20s、30s和60s。请注意，中速通用输入模块（MX110-UNV-M10）无法设定10/50ms的测量周期。
设置测量周期示例
 | 可为每个模块灵活设置多周期系统，如下图所示。 三种颜色分别代表三种测量周期。 |
 | 此窗口显示各个测量周期的测量值。在测量期间，可以同时确认快速变化信号和慢速变化的信号。 |
输入端子和机壳之间采用加强（双层）绝缘，实现了600Vrms/VDC（连续）的高耐压。如下图所示，即使电池串接，使共模电压增加时，仍可安全的测量每节电池的电压。
MX输入模块使用具有出色噪声抑制性能的积分型A/D转换器。尤其是MX110-UNV-H04四通道高速通用输入模块，每个输入通道包含积分型A/D转换器，在高速测量过程中体现出*的噪声抑制性能。此外，对于积分型A/D转换器无法*抑制的噪声，可通过数字滤波功能有效抑制。时间常数可以设置为测量周期的5~100倍。因此，可以根据要抑制的噪声进行滤波。
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