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GJB 360.7-1987 电子及电气元件试验方法 冷热冲击温度冲击试验
最近更新时间：2014-2-18
提 供 商：广东科文试验设备有限公司资料大小：88.7KB
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GJB 360.7-1987 电子及电气元件试验方法 冷热冲击温度冲击试验
中华人民共和国国家军用标准
电子及电气元件试验方法 冷热冲击温度冲击试验 Test methods for electronic and electrical component parts Temperature shock test
1 引言
1.1目的 确定元件曝露于高低温极值下，以及高低温极值交替冲击下所具有的抗御能力。
1.2应用 试验样品的失效数应以zui后检测为依据。
3 对冷热冲击试验设备的要求
3.1 高温冲击箱、低温冲击箱应能提供第2章表1所规定的极值温度条件。
3.2 高温冲击箱、低温冲击箱应符合GJB360.1-87<电子及电气元件试验方法 总则>第4.4条a的规定。
3.3 冷热冲击试验箱应有足够的热容量，以便试验样品放入试验箱后，在5min内工作空间就能达到所规定的温度值。
3.4 试验样品的安装和支撑架的导热率应低，以保证试验样品与安装和支撑架间处于一种绝热状态。
4 试验程序
4.1初始检测
在试验的标准大气条件下，按有关标准的规定对试验样品进行外观检查和性能检测。
4.2试验样品的安装
试验样品的安装由有关标准规定，当装入试验箱时，应使气流畅通无阻地穿过及绕过试验样品。