陶瓷原料粉末激光粒度仪陶瓷粒径分布测量仪 返回列表页

MAM6200-H 陶瓷原料粉末激光粒度仪陶瓷粒径分布测量仪

用途：适用于测量陶瓷原料粉末的粒径。

功能特点：测试报告可导出Word、Excel、图片（Bmp）和文本（Text）等多种形式的文档，满足在任何场合下查看测试报告以及科研文章中引用测试结果。
技术参数：
型号：MAM6200-H
执行标准： ISO 13320:2009；GBT 19077-2016
测量范围：0.1μm -800μm
探测器通道数：86
准确性误差：<1%
重复性误差：<0.5%
降噪音功能：有
免排气泡：具备免排气泡设计，无气泡干扰数据更准确
误操作保护：仪器具备误操作自我保护功能，仪器对误操作不响应
激光器参数：进口光纤输出大功率半导体激光器 λ= 635nm,  p>10mW，使用寿命＞30000小时
光路校准：光路自动校准
防尘、防震设计：整机采用防尘、防震设计
操作模式：一键式全自动软件操作模式
测试速度：<1min/次（不含样品分散时间）
样品池：190-600mL均可正常测试。陶瓷原料粉末激光粒度仪陶瓷粒径分布测量仪

功能特点：测试报告可导出Word、Excel、图片（Bmp）和文本（Text）等多种形式的文档，满足在任何场合下查看测试报告以及科研文章中引用测试结果。