除了电子显微镜法外粉体颗粒的测试方法及原理-公司动态-上海光学仪器一厂

阅读：1914 发布时间：2013-1-30

粉体颗粒的测试方法及原理

除了电子显微镜法外，测定粒度分佈的许多方法都是把试样分散在水中来进行的，即都是以颗粒在水中存在的状态为对象，但这未必与乾燥状态的颗粒行为相对应。

因此，认为仅仅用一个测定值就能得到粉体颗粒的所有资讯是不确切的。

在选择颗粒测试方法时，首先耍瞭解待测样品是否符合实验要求和环境，如X射线沉降法不适于测量不吸收X射线的物质。

下面就目前测定粉体颗粒粒度的几种主要方法加以介绍；

（1）筛分筛分的方法很快，很简单，容易操作、适合用于大于37μm的颗粒的表征和分级。

通常，按照开口直径逐渐降低的顺序将一系列筛网安装在一起，一次操作即可将不同粒度范围的颗粒及其所占的体积或品质百分比的测定完成。

筛分过程中需要一些机械振动设备。这种方法的解析度低，度小，因此，只能用于粉料大小的定性测定或粗略分级。

（2）沉降法沉降法测定颗粒尺寸是以Stoke‘s方程为基础的。

该方程表达了一球形颗粒在层流状态的流体中。自由下降速度与颗粒尺寸的关系。所测得的尺寸为等当Stoke's直径。

沉降法测定颗粒尺寸分佈有增值法和累计法两种。

前一种方法测定初始均匀的悬浮液在已知固定高度处颗粒浓度随时间的变化或固定时间测定浓度-高度的分佈;

累计法是测量颗粒从悬浮液中沉降出来的速度。

目前以高度固定法使用得zui多。

依靠重力沉降的方法，一般只能测定>1OOnm的颗粒尺寸，因此在用沉降法测定奈米粉体的颗粒时，需借助于离心沉降法。

在离心力的作用下使沉降速率增加，配以*的光学系统。以测定100nm甚至更小的颗粒。

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