详细摘要： SWP-G403-01-09-HL数字显示控制器测量精度0.5%，采样周期Z短0.5秒。它采用插入式结构易检修、易升级；采用EMC抗干扰屏蔽设计，完善的软件功能，使SWP-G803-01-12-HL仪表可靠性更高；采用开放式模块化硬件结构，丰富了仪表功能，使用户灵活度大大提高。工程PC材料柔性好、抗压，10米跌落实验不碎、不裂。

详细摘要： SWP-G403-02-09-HL数字显示控制器测量精度0.5%，采样周期Z短0.5秒。它采用插入式结构易检修、易升级；采用EMC抗干扰屏蔽设计，完善的软件功能，使SWP-G803-01-12-HL仪表可靠性更高；采用开放式模块化硬件结构，丰富了仪表功能，使用户灵活度大大提高。工程PC材料柔性好、抗压，10米跌落实验不碎、不裂。

详细摘要： SWP-G403-02-23-HL-P数字显示控制器测量精度0.5%，采样周期Z短0.5秒。它采用插入式结构易检修、易升级；采用EMC抗干扰屏蔽设计，完善的软件功能，使SWP-G803-01-12-HL仪表可靠性更高；采用开放式模块化硬件结构，丰富了仪表功能，使用户灵活度大大提高。工程PC材料柔性好、抗压，10米跌落实验不碎、不裂。

详细摘要： SWP-G403-02-08-HL数显表测量精度0.5%，采样周期Z短0.5秒。它采用插入式结构易检修、易升级；采用EMC抗干扰屏蔽设计，完善的软件功能，使SWP-G803-01-12-HL仪表可靠性更高；采用开放式模块化硬件结构，丰富了仪表功能，使用户灵活度大大提高。工程PC材料柔性好、抗压，10米跌落实验不碎、不裂。

详细摘要： SWP-G403-01-08-HL数显表测量精度0.5%，采样周期Z短0.5秒。它采用插入式结构易检修、易升级；采用EMC抗干扰屏蔽设计，完善的软件功能，使SWP-G803-01-12-HL仪表可靠性更高；采用开放式模块化硬件结构，丰富了仪表功能，使用户灵活度大大提高。工程PC材料柔性好、抗压，10米跌落实验不碎、不裂。

详细摘要： SWP-G403-01-23-HL数显表测量精度0.5%，采样周期Z短0.5秒。它采用插入式结构易检修、易升级；采用EMC抗干扰屏蔽设计，完善的软件功能，使SWP-G803-01-12-HL仪表可靠性更高；采用开放式模块化硬件结构，丰富了仪表功能，使用户灵活度大大提高。工程PC材料柔性好、抗压，10米跌落实验不碎、不裂。

详细摘要： SWP-G403-02-23-HL数字显示控制器测量精度0.5%，采样周期Z短0.5秒。它采用插入式结构易检修、易升级；采用EMC抗干扰屏蔽设计，完善的软件功能，使SWP-G803-01-12-HL仪表可靠性更高；采用开放式模块化硬件结构，丰富了仪表功能，使用户灵活度大大提高。工程PC材料柔性好、抗压，10米跌落实验不碎、不裂。

详细摘要： SWP-G403-01-12-HL-P数显表测量精度0.5%，采样周期Z短0.5秒。它采用插入式结构易检修、易升级；采用EMC抗干扰屏蔽设计，完善的软件功能，使SWP-G803-01-12-HL仪表可靠性更高；采用开放式模块化硬件结构，丰富了仪表功能，使用户灵活度大大提高。工程PC材料柔性好、抗压，10米跌落实验不碎、不裂。

详细摘要： SWP-G403-02-12-HL-P数显表测量精度0.5%，采样周期Z短0.5秒。它采用插入式结构易检修、易升级；采用EMC抗干扰屏蔽设计，完善的软件功能，使SWP-G803-01-12-HL仪表可靠性更高；采用开放式模块化硬件结构，丰富了仪表功能，使用户灵活度大大提高。工程PC材料柔性好、抗压，10米跌落实验不碎、不裂。

详细摘要： SWP-G403-02-12-HL数字显示控制器测量精度0.5%，采样周期Z短0.5秒。它采用插入式结构易检修、易升级；采用EMC抗干扰屏蔽设计，完善的软件功能，使SWP-G803-01-12-HL仪表可靠性更高；采用开放式模块化硬件结构，丰富了仪表功能，使用户灵活度大大提高。工程PC材料柔性好、抗压，10米跌落实验不碎、不裂。

详细摘要： SWP-G803-02-15-HL-P-T数字显示控制器测量精度0.5%，采样周期Z短0.5秒。它采用插入式结构易检修、易升级；采用EMC抗干扰屏蔽设计，完善的软件功能，使SWP-G803-01-12-HL仪表可靠性更高；采用开放式模块化硬件结构，丰富了仪表功能，使用户灵活度大大提高。工程PC材料柔性好、抗压，10米跌落实验不碎、不裂。

详细摘要： SWP-G803-02-15-HL数字显示控制器测量精度0.5%，采样周期Z短0.5秒。它采用插入式结构易检修、易升级；采用EMC抗干扰屏蔽设计，完善的软件功能，使SWP-G803-01-12-HL仪表可靠性更高；采用开放式模块化硬件结构，丰富了仪表功能，使用户灵活度大大提高。工程PC材料柔性好、抗压，10米跌落实验不碎、不裂。

详细摘要： SWP-G803-01-15-HL数字显示控制器测量精度0.5%，采样周期Z短0.5秒。它采用插入式结构易检修、易升级；采用EMC抗干扰屏蔽设计，完善的软件功能，使SWP-G803-01-12-HL仪表可靠性更高；采用开放式模块化硬件结构，丰富了仪表功能，使用户灵活度大大提高。工程PC材料柔性好、抗压，10米跌落实验不碎、不裂。

详细摘要： SWP-G803-01-09-HL数字显示控制器测量精度0.5%，采样周期Z短0.5秒。它采用插入式结构易检修、易升级；采用EMC抗干扰屏蔽设计，完善的软件功能，使SWP-G803-01-12-HL仪表可靠性更高；采用开放式模块化硬件结构，丰富了仪表功能，使用户灵活度大大提高。工程PC材料柔性好、抗压，10米跌落实验不碎、不裂。

详细摘要： SWP-G803-02-09-HL数字显示控制器测量精度0.5%，采样周期Z短0.5秒。它采用插入式结构易检修、易升级；采用EMC抗干扰屏蔽设计，完善的软件功能，使SWP-G803-01-12-HL仪表可靠性更高；采用开放式模块化硬件结构，丰富了仪表功能，使用户灵活度大大提高。工程PC材料柔性好、抗压，10米跌落实验不碎、不裂。

详细摘要： SWP-G803-02-23-HL-P数字显示控制器测量精度0.5%，采样周期Z短0.5秒。它采用插入式结构易检修、易升级；采用EMC抗干扰屏蔽设计，完善的软件功能，使SWP-G803-01-12-HL仪表可靠性更高；采用开放式模块化硬件结构，丰富了仪表功能，使用户灵活度大大提高。工程PC材料柔性好、抗压，10米跌落实验不碎、不裂。

详细摘要： SWP-G803-02-08-HL数显表测量精度0.5%，采样周期Z短0.5秒。它采用插入式结构易检修、易升级；采用EMC抗干扰屏蔽设计，完善的软件功能，使SWP-G803-01-12-HL仪表可靠性更高；采用开放式模块化硬件结构，丰富了仪表功能，使用户灵活度大大提高。工程PC材料柔性好、抗压，10米跌落实验不碎、不裂。

详细摘要： SWP-G803-01-08-HL数显表测量精度0.5%，采样周期Z短0.5秒。它采用插入式结构易检修、易升级；采用EMC抗干扰屏蔽设计，完善的软件功能，使SWP-G803-01-12-HL仪表可靠性更高；采用开放式模块化硬件结构，丰富了仪表功能，使用户灵活度大大提高。工程PC材料柔性好、抗压，10米跌落实验不碎、不裂。

详细摘要： SWP-G803-01-23-HL数显表测量精度0.5%，采样周期Z短0.5秒。它采用插入式结构易检修、易升级；采用EMC抗干扰屏蔽设计，完善的软件功能，使SWP-G803-01-12-HL仪表可靠性更高；采用开放式模块化硬件结构，丰富了仪表功能，使用户灵活度大大提高。工程PC材料柔性好、抗压，10米跌落实验不碎、不裂。

详细摘要： SWP-G803-02-23-HL数字显示控制器测量精度0.5%，采样周期Z短0.5秒。它采用插入式结构易检修、易升级；采用EMC抗干扰屏蔽设计，完善的软件功能，使SWP-G803-01-12-HL仪表可靠性更高；采用开放式模块化硬件结构，丰富了仪表功能，使用户灵活度大大提高。工程PC材料柔性好、抗压，10米跌落实验不碎、不裂。