详细介绍
阻抗分析仪IM3570产品特点: 1台仪器实现LCR测量、DCR测量、扫描测量等的连续测量和高速检查 LCR模式下zui快1.5ms(1kHz),0.5ms(100kHz)的高速测量 基本精度±0.08%的高精度测量 适用于压电元件的共振特性检查、功能性高分子电容的C-D和低ESR测量,电感器(线圈、变压器)的DCR和L-Q的测量 分析仪模式下可进行扫频测量、电平扫描测量、时间间隔测量 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
阻抗分析仪IM3570产品详情:
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苏州赛秘尔电子科技有限公司 |
—— 销售热线 ——
18006219796 |
参考价 | 面议 |
更新时间:2016-12-12 19:24:11浏览次数:1384
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阻抗分析仪IM3570产品特点: 1台仪器实现LCR测量、DCR测量、扫描测量等的连续测量和高速检查 LCR模式下zui快1.5ms(1kHz),0.5ms(100kHz)的高速测量 基本精度±0.08%的高精度测量 适用于压电元件的共振特性检查、功能性高分子电容的C-D和低ESR测量,电感器(线圈、变压器)的DCR和L-Q的测量 分析仪模式下可进行扫频测量、电平扫描测量、时间间隔测量 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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