产品详情： 变压器综合测试仪5238 品牌 | WAYNE KERR | 型号 | WK－5238 | 测量范围 | 电阻测量范围 0.00001-999999999（Ω） 电容测量范围 0.00001-99999999999（Pf） | 测量精度 | 一级 | 分辨率 | 50/60 | 电源 | 220/110 | 尺寸 | 360*150*420（mm） | 用途 | 变压器综合测试仪 |
变压器综合测试仪5238 0.1%基本度 测试频率zui高可达1MHZ
zui高测试速度可达每秒30个项目
提供治具短路／开路校正功能
提供完整的测试功能，一次完成
可选购100mA DC Bias
20Pin测试治具
直觉式人性化操作接口
RS-232接口与计算机联机
支持USB随身碟存取仪器配置文件及测试数据 量测功能 | Model | 5235 | 5236 | 5237 | 量测参数 | Transformer Scanning | Turn Ratio, Phase, L, Q, Leakage L, Balance,
ACR, Cp, D, X, Y, DCR, Pin Short | 量测信号 | Test Frequency
(0.01%, 5digits) | Turn | 50Hz ~ 200kHz (10Vac Max.) | Others | 20Hz ~ 200kHz | 20Hz ~ 500kHz | 20Hz ~ 1MHz | Output Impedance | 100Ω | 显示范围 | L, LK | 0.00001uH ~ 9999.99H | C | 0.00001pF ~ 999.99mF | Q, D | 0.00001 ~ 99999 | Z, X, R | 0.00001Ω ~ 99.9999MΩ | Y | 0.01nS ~ 99.9999S | θ | -90.00º ~ +90.00º | DCR | 0.01mΩ ~ 99.999MΩ | Turn | 0.01 ~ 99999.99turns | Pin-Short | 12 pairs, between pin to pin | 基本度 | L, LK, C, Z, X, Y, R, DCR | 0.1% (1kHz if AC parameter) | Q, D | 0.0005 (1kHz) | θ | 0.03º (1kHz) | Turn | 0.5% (1kHz) | 量测速度 | L, LK, C, Z, X, Y, R, Q, D, θ | 75ms | DCR | 25ms | Turn | 75ms | 其他规格 | Transformer Scanning | PASS/FAIL judge of all test parameters
output from optional HANDLER interface | 测试点位 | 20点 | 启动方式 | 自动,手动,外部 | LCD显示器 | 320*240 LCD显示器 | 等效线路模式 | 串联,并联 | 偏差校正功能 | Open/Short Zeroing, Load deviation | 储存内存 | 64组 | 操作环境 | Temperature :10ºC ~ 40ºC, Humidity :10% ~ 90% RH | 消耗功率 | 140VA max. | 输入电压 | 90Vac ~ 125Vac or 190Vac ~ 250Vac, 48Hz ~ 62Hz | 重量 | Approx. 9kgs | 外观 (W*H*D) | 360*150*420mm | 界面 | RS-232, Handler (option), USB (option) |
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