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产品简介
详细介绍
QNIX4200P涂层测厚仪
QNIX4200P涂层测厚仪是一款外接探头的涂层测厚仪，跟老款QNIX4200功能一样，只是探头是分体式设计。
QNIX4200P涂层测厚仪特点：
只需调零、无需校准
Fe探头
分体化设计
自动开关机
技术参数：
技术参数：
| 型 号 | 4200 | 4200P |
| 基 体 | Fe | Fe |
| 探头形式 | 一体 | 分体 |
| 显 示 | LCD数字显示 | |
| 测量范围 | Fe:0-3000μm Fe：0－5000μm | Fe:0-3000μm Fe：0－5000μm |
| 测量精度 | 0－50μm：≤±1μm，50－1000μm：≤±1.5%，1000－2000μm：≤±2%， 2000－5000μm≤±3% | |
| 显示精度 | 0－99μm：0.1μm，1000μm以上，0.01mm | |
| 工作温度 | －10 － ＋60℃ | |
| 温度补偿 | 0－50℃ | |
| 小基体 | 10mm×10mm | |
| 小曲率 | 凸、凹半径：3mm/25mm | |
| 薄基体 | Fe：0.2mm，NFe：0.05mm | |
| 电 源 | 5号电池2节 | |
| 重 量 | 110g | |
| 尺 寸 | 110×60×27mm | |