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珠海天创仪器有限公司>>资料下载>>QuaNix4200/4500涂层测厚仪使用说明书

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QuaNix4200/4500涂层测厚仪使用说明书

阅读:1941        发布时间:2010-9-16
  • 提供商

    珠海天创仪器有限公司

  • 资料大小

    197.9KB

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    837次

  • 资料类型

    WORD 文档

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    1941次

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QNIX4200铁基膜厚仪QNIX4200覆层测厚仪

基体 :Fe 
探头形式 :一体 
LCD数字显示
测量范围 :0-3000μm 
显示精度 :1μm 
工作温度 :-10 - +60℃

QNIX覆层测厚仪选型

QuaNix技术参数
型    号
4200
4500
1200
1500
7500
keyless
基    体
Fe
Fe/NFe
Fe
Fe/NFe
Fe、NFe、Fe/NFe
Fe/NFe
探头形式
一体
一体、分体
无线分体
显    示
LCD数字显示
测量范围
0-3000μm
Fe:0-3000μm
NFe:0-2000μm 
0-2000μm
0-5000μm
0-2000μm
0-5000μm
0-5000μm
测量精度
0-50μm:≤±1μm,50-1000μm:≤±1.5%,1000-2000μm:≤±2%,
2000-5000μm≤±3%
显示精度
1μm
0-999μm:0.1μm,1000μm以上,0.01mm
工作温度
-10 - +60℃
温度补偿
0-50℃
存    储
1500M型
7500M型
keylessM型
 
3900个测量值,999个数据组
数据传输
RS232打印、电脑
统计功能
平均值、大值、小值、标准偏差
超限报警
上下限
小基体
10mm×10mm
小曲率
凸、凹半径:3mm/25mm
凸半径:5mm,凹半径:25mm
薄基体
Fe:0.2mm,NFe:0.05mm
电    源
5号电池2节
9V碱性电池1节
5号电池2节
重    量
110g
130g
150g
130g
尺    寸
110×60×27mm
166×64×34mm
110×60×24mm
110×62×22mm

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