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上海物光显微熔点仪SGW® X-4B

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更新时间:2017-08-25 09:48:34浏览次数:460

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产品简介

上海物光显微熔点仪SGW® X-4B测定物质的熔点。用于药物、化工、纺织、染料等晶体有机化合物之测定,显微镜观察。既可用毛细管法测定,又可用载玻片-盖玻片法(热台法)测定。

详细介绍

上海物光显微熔点仪SGW® X-4B应用范围

 

测定物质的熔点。用于药物、化工、纺织、染料等晶体有机化合物之测定,显微镜观察。既可用毛细管法测定,又可用载玻片-盖玻片法(热台法)测定。

 

 上海物光显微熔点仪SGW® X-4B产品简介

 

性能指标

 

熔点测量范围:室温至320℃

 

测量重复性:±1℃(在<200℃时)

            ±2℃(在200~300℃时)

 

X-4

X-4A

X-4B

温度显示zui小值

1℃

0.1℃

0.1℃

熔点观察方式

单目显微镜

单目显微镜

双目体视显微镜

光学放大倍数

40倍

40倍

连续变倍40倍-100倍

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