BISS小负载单轴扭转测试系统

BISS小负载单轴扭转测试系统为紧凑的台上单轴扭转测试系统，满足各种静态和动态测试要求。该系统具有*的负载和位移的控制分辨率，通过轴向、扭转和组合轴向扭转配置，能提供的测试能力。测试系统配备进行位移数字输出的光电编码器和灵活的可编程数字伺服控制器，能提供的控制精度和测 量，编码器、高电平输入信号、线性位移传感器和力传感器使得它非常适合于表征工程材料和测试电子元件的低负载力学测试。

BISS小负载单轴扭转测试系统为紧凑的台上单轴扭转测试系统，满足各种静态和动态测试要求。该系统具有*的负载和位移的控制分辨率，通过轴向、扭转和组合轴向扭转配置，能提供的测试能力。测试系统配备进行位移数字输出的光电编码器和灵活的可编程数字伺服控制器，能提供的控制精度和测 量，编码器、高电平输入信号、线性位移传感器和力传感器使得它非常适合于表征工程材料和测试电子元件的低负载力学测试。

特征：

∴单柱框架适用于大500 N的力

∴可选2 Nm扭转头，用于双轴加载

∴紧凑的桌面结构 ∴0.1μm位移分辨率 ∴孵化器兼容