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产品描述：
Santec PEM-340消光比测试仪可以实现1260~1630nm的全波段测量，该消光比测试仪具有很高的消光比测试精度、偏振角测试精度，能够测量高达50dB的消光比，并且配备了GPIB接口，适用于偏振光轴调整的光学元器件装配及保偏光纤熔接的质量控制及检测等领域。PEM-340可以实现快速，准确的光器件偏振轴对准及保偏光纤（PMF）性能评价。除此之外，使用应答时间为1kHz的模拟功率计， 可对应半导体激光及光纤的高速自动对准。
技术参数：
全波段1260 to 1630 nm
消光比, 光功率及偏振角度的同时显示
PER测量的50dB动态范围
宽动态输入功率范围
(- 40 to + 10 dBm/标准功率), (- 25 to + 20 dBm/高功率)
直接 PD模拟输出
实时(up to 10 Hz) 测量
可互换连接器: FC, SC or LC
