等离子体分析飞行时间质谱仪（pp-tofms）是一款新型材料表征技术，用于超快速、元素组分的深度剖析。

此次网络讲座将通过诸多实例为您展示研发过程中pp-tofms从薄膜和器件的生长到加工中表现的分析潜力。

加入会议，你将：

• 熟识pp-tofms的基本特征（分析速度、灵敏度和分辨率）

• 了解pp-tofms和目前熟知的表面化学分析技术（如xps, sims, sem-edx, rbs）间的互补性

• 了解pp-tofms在快速表面&深度分析中的强大功能

谁需要参加？

• 从事材料研究的学术专家及研发工程师，如半导体、微电子、光电及光伏材料研究

• 计量管理人员及计量工程师；表面分析专家；xps、sims、aes用户等

讲师

agnès tempez, phd

pp-tofms产品，horiba scientific

yann mazel

计量工程师

emmanuel nolot, phd

计量师，cea-leti

时间

4月4日 星期二

10:00  am / 5:00 pm（欧洲夏令）

报名

点击左下角“阅读原文”报名直达（国外系统打开较慢，请耐心等待）：

https://events.r20.constantcontact.com/register/eventreg?oeidk=a07edumvafd61969351&oseq=&c=&ch=

• ：33-169747200

• ：live-sci.fr@horiba.com

horiba optical school

horiba一直致力于为用户普及光谱基础知识，其旗下的jobin yvon有着近200年的光学、光谱经验，我们非常乐意与大家分享这些经验，为此特创立 optical school（光谱学院）。无论是刚接触光谱的学生，还是希望有所建树的研究者，都能在这里找到适合的资料及课程。 

我们希望通过这种分享方式，使您对光学及光谱技术有更系统、全面的了解，不断提高仪器使用水平，解决应用中的问题，进而提升科研水平，更好地探索未知世界。